Расчет показателей надежности амплитудного накопителя

Целью расчета показателей надежности является определение вероятности безотказной работы за 2000 ч работы амплитудного накопителя по каждой выполняемых им функций.

Критериями отказов является сбой функционирования:

) по функции преобразования входных аналоговых сигналов;

) по функции программного включения и выключения технологического оборудования;

) по функции программного включения и выключения сигнального оборудования и ручного оборудования;

) по функции ввода параметров.

Закон распределения времени безотказной работы принимается экспоненциальный.

Вероятность безотказной работы для этапа нормальной эксплуатации, когда не сказывается износ, старение, усталость элементов определяется по формуле:

,

где t - время работы, равное 2000 ч;- количество элементов схемы расчета;

lэi - интенсивность отказов i-го элемента в условиях эксплуатации.

Интенсивность отказов в условиях эксплуатации в соответствии с отраслевой методикой Минэлектронпрома определяется выражением:

lэ = lо * Кр * Кэ * Ку,

где lo - интенсивность отказов изделий при испытаниях в режиме номинальных значений электрической нагрузки и температуры окружающего воздуха;

Кр - коэффициент режима, характеризующий зависимость надежности от рабочих значений электрической нагрузки и температуры окружающей среды;

Кэ - эксплуатационный коэффициент, учитывающий влияние комплекса внешних воздействующих факторов;

Ку - коэффициент роста надежности, учитывающий уменьшение величины lo результате систематических работ по повышению качества и надежности.

Значения lо, Кр, Кэ, Ку принимаются по справочным материалам Минэлектронпрома, а также учитываются данные и рекомендации ГОСТ 25 160-81, РТМ 25.446.81 и СТП 3РО-098-81.

Для достижения расчетных показателей накопителя в условиях эксплуатации наряду с соблюдением регламента технического обслуживания необходимо обеспечить технологическую приработку изделия на предприятии-изготовителе для выявления некачественных элементов.

Необходимое время приработки tпр определяется по формуле:

tпр = tg,

где tg - средняя наработка на отказ каждого из дефектных элементов;- среднее количество дефектных элементов амплитудного накопителя по рассчитываемой функции.

Таблица 4.1 - Расчет показателей надежности.

Прочитайте еще и эти статьи:

Создание низкоразмерной среды в арсениде галлия для устройств микро- и наноэлектроники
В настоящее время основным материалом функциональной электроники является ареснид галлия, как самый универсальный по своим электрофизическим свойствам из всех полупроводниковых материалов типа. Физико-химические свойства пористых полупро ...

Разработка аппаратно-технологического обеспечения производства компьютерной игры
Аудио-обеспечение для игр является очень близким к кинопроизводству, но раньше звуковым оформлением любили заниматься в рамках команд девелоперов (разработчиков) на любительском уровне, и только сейчас стали массово обращаться к профессиона ...